栅格地图质量评估方法、装置、计算机设备及存储介质
基本信息
| 申请号 | CN202011604692.2 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114757870A | 公开（公告）日 | 2022-07-15 |
| 申请公布号 | CN114757870A | 申请公布日 | 2022-07-15 |
| 分类号 | G06T7/00（2017.01）I;G06T7/13（2017.01）I;G06T7/136（2017.01）I;G06T7/62（2017.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 何科君;张涛;陈美文;周阳;刘勇;刘运航;武金龙 | 申请（专利权）人 | 深圳市普渡科技有限公司 |
| 代理机构 | 深圳众鼎专利商标代理事务所（普通合伙） | 代理人 | - |
| 地址 | 518000广东省深圳市南山区粤海街道科技园社区科发路10号维用大厦301 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及激光雷达定位领域，公开了一种栅格地图质量评估方法、装置、计算机设备及存储介质，其方法包括：获取待评估的栅格地图；通过第一评估方法评估栅格地图，获得第一评分，第一评分与栅格地图内平行线段组所占像素成负相关；通过第二评估方法评估栅格地图，获得第二评分，第二评分与栅格地图内轮廓个数成负相关；根据第一评分和第二评分确定栅格地图的质量评分。本发明可以快速有效地评估栅格地图的质量，减少因栅格地图质量问题导致的定位问题的发生。 |
