一种可以检测单侧电容的电容检测方法
基本信息
申请号 | CN202010795066.X | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN112014648A | 公开(公告)日 | 2020-12-01 |
申请公布号 | CN112014648A | 申请公布日 | 2020-12-01 |
分类号 | G01R27/26(2006.01)I;G01D5/241(2006.01)I | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 高亭 | 申请(专利权)人 | 南京天易合芯电子有限公司 |
代理机构 | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) | 代理人 | 南京天易合芯电子有限公司 |
地址 | 210000江苏省南京市浦口区浦滨路150号5号楼704室,804~805室 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明公开了一种可以检测单侧电容的电容检测方法,包括步骤:(1)进行第一次检测,将传感元件以及屏蔽层在传感器芯片内短接,并采样此时的电容,为C1=Cuser+Cback;其中,Cuse为传感元件侧的电容,Cback为屏蔽层侧的电容;(2)进行第二次检测,将传感元件以及屏蔽层分别接入电容电压转换器的正负输入端,并采样此时的电容,为C2=Cuse‑Cback;其中,传感元件接入正端,屏蔽层接入负端;(3)对两次检测结果求平均,得到传感元件单侧电容Cuser=(C1+C2)/2。本发明通过不同的连接方式对电容做两次检测,并通过对两次检测结果求平均,得到传感元件单侧电容,屏蔽层一侧的干扰电容被完全消除。 |
