一种芯片测试装置
基本信息
| 申请号 | CN201821792106.X | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN209542773U | 公开（公告）日 | 2019-10-25 |
| 申请公布号 | CN209542773U | 申请公布日 | 2019-10-25 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 刘方远; 林爱军; 闫骏驰 | 申请（专利权）人 | 南京天易合芯电子有限公司 |
| 代理机构 | 南京苏高专利商标事务所（普通合伙） | 代理人 | 南京天易合芯电子有限公司 |
| 地址 | 210000 江苏省南京市浦口区桥林街道步月路29号12幢 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种芯片测试装置，芯片测试板上安装有芯片测试底座，芯片通过芯片测试底座将引脚引出，微控制器通过芯片测试底座连接芯片各引脚；芯片测试板上还包括电源电路、OSC频率放大电路、分频器电路、AD转换电路、SD卡存储电路、TFT彩屏显示电路。针对不同封装的芯片，只需要制作新的芯片测试底座即可对芯片进行测试。本实用新型的芯片测试装置，调试周期短，只需要一个月左右，针对不同封装的芯片，只需要制作新的测试夹具即可，针对年产量在500万以下的产品，测试成本低。 |
