一种光谱检测方法及系统
基本信息
| 申请号 | CN202010294439.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN111351758A | 公开（公告）日 | 2020-06-30 |
| 申请公布号 | CN111351758A | 申请公布日 | 2020-06-30 |
| 分类号 | G01N21/25(2006.01)I | 分类 | - |
| 发明人 | 杨琦;许一力 | 申请（专利权）人 | 杭州谱析光晶半导体科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京乐知新创知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 杭州谱析光晶半导体科技有限公司 |
| 地址 | 311241浙江省杭州市萧山区瓜沥镇梅仙村盈钱路梅仙段13号1幢417(自行分割) | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种光谱检测方法及系统，首先通过小孔光阑对被检测物体表面的散射光进行空间滤波，得到球面波光场信号；接着利用色散元件对球面波光场信号进行分光处理，形成多阶光学信号；进一步将多阶光学信号经成像系统成像，并成像至窄带光谱探测器；之后由窄带光谱探测器对成像结果中无法被有效探测的光谱进行波长转换，形成可接受光谱信号；最后对所形成的可接受光谱信号进行光谱检测，得到光谱检测结果。 |
