一种光谱检测方法及系统
基本信息
| 申请号 | CN202010294923.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN111351759A | 公开（公告）日 | 2020-06-30 |
| 申请公布号 | CN111351759A | 申请公布日 | 2020-06-30 |
| 分类号 | G01N21/25(2006.01)I | 分类 | - |
| 发明人 | 杨琦;许一力 | 申请（专利权）人 | 杭州谱析光晶半导体科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京乐知新创知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 杭州谱析光晶半导体科技有限公司 |
| 地址 | 311241浙江省杭州市萧山区瓜沥镇梅仙村盈钱路梅仙段13号1幢417(自行分割) | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种光谱检测方法及系统，首先通过小孔光阑对被检测物体表面的散射光进行空间滤波，得到球面波光场信号；接着利用色散元件对球面波光场信号进行分光处理，形成多阶光学信号；进一步将多阶光学信号经成像系统成像，并成像至光信号探测器；最后由光信号探测器根据成像结果进行光谱检测，得到光谱检测结果。 |
