新型芯片搬运测试设备及工作方法
基本信息
申请号 | CN202111225157.0 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN113945578A | 公开(公告)日 | 2022-01-18 |
申请公布号 | CN113945578A | 申请公布日 | 2022-01-18 |
分类号 | G01N21/89(2006.01)I;G01B11/06(2006.01)I;B07C5/00(2006.01)I;B07C5/02(2006.01)I;B07C5/36(2006.01)I;B65G47/90(2006.01)I;B65G47/52(2006.01)I | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 邓天桥;王焕龙;张学东;毕爱荣;韩禄丰;周少峰;赵婉婉 | 申请(专利权)人 | 上海梓一测控技术有限公司 |
代理机构 | 上海创开专利代理事务所(普通合伙) | 代理人 | 张佑富 |
地址 | 201612上海市松江区新桥镇千帆路288弄6号601室-10 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明涉及芯片搬运技术领域,公开了新型芯片搬运测试设备及工作方法,包括有托盘叠盘上料架,托盘叠盘上料架的外侧安装有上料托盘拍照测高组件,且上料托盘拍照测高组件的顶部设置有进料吸取搬运组件,托盘叠盘上料架与上料托盘拍照测高组件之间安装有底部纠正组件,且托盘叠盘上料架的后端面安装有进料移动组件。本发明中,通过上料托盘拍照测高组件的设置,将芯片的上料吸取通过视觉拍照,给出芯片的吸取中心位置,吸取后通过底部CCD纠正相机纠正位置芯片的角度,最后再通过CCD视觉拍照放在载具的穴位位置,在经过数据计算后,吸取的芯片可以准确的放入到载具或则托盘设定的位置上,有效的解决了芯片放置不准的问题。 |
