集成电路测试装置及测试方法
基本信息
| 申请号 | CN202010613957.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN111871865A | 公开（公告）日 | 2021-08-13 |
| 申请公布号 | CN111871865A | 申请公布日 | 2021-08-13 |
| 分类号 | B07C5/344;B07C5/02;G01R31/28;G01R31/01 | 分类 | 将固体从固体中分离；分选; |
| 发明人 | 陈戈 | 申请（专利权）人 | 绍兴网策科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京成创同维知识产权代理有限公司 | 代理人 | 蔡纯 |
| 地址 | 312030 浙江省绍兴市柯桥区越州大道958号浙江工业大学之江学院科创楼内315、317房间 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申请公开了集成电路测试装置及测试方法。该集成电路测试装置包括：测试机，包括多个测试工位，用于提供多个测试信号以及对多个待测芯片的响应信号进行分析以获得测试结果；以及分选机，包括多个芯片工位，用于放置多个待测芯片，以及根据分选信号对多个待测芯片进行筛选，其中，测试机的多个测试工位经由测试排线与分选机的多个芯片工位相连接，分选机中存储经由测试排线传输的工位标识，测试机根据分选机中存储的工位标识产生分选信号。该集成电路测试装置允许测试机和分选机之间任意顺序的测试排线连接，即使在大量待测芯片测量的情形也可以避免芯片识别错误。 |
