一种多Site模式测试装置防呆方法和测试机防呆方法
基本信息
| 申请号 | CN202011103046.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112444730A | 公开（公告）日 | 2021-03-05 |
| 申请公布号 | CN112444730A | 申请公布日 | 2021-03-05 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01)I;G01R31/55(2020.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 金浩 | 申请（专利权）人 | 绍兴网策科技有限公司 |
| 代理机构 | 杭州宇信知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 李学红 |
| 地址 | 312030浙江省绍兴市柯桥区越州大道958号浙江工业大学之江学院科创楼内315、317房间 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提出了一种多Site模式测试装置防呆方法，包括：分选机设置为单Site模式；当前工作的测试工位基于预设阈值连续测试芯片；若测试机判断连续测试结果错误，则判定分选机和测试机的信号线连接关系错误；还提出了一种多Site模式测试装置防呆方法，分选机设置为单site模式；测试机获取当前工作的测试工位的site信息；若测试站接收ready信号超时或错误，则判断第一信号线连接错误；若测试站接收测试结果错误，则判断第二信号线连接错误，解决了集成电路测试系统中由于测试排线和分选信号线连接错误导致的集成电路测试结果错误的问题。 |
