一种光学路径可控高导热、低电阻的VCSEL制作方法及VCSEL
基本信息

| 申请号 | CN202111356425.2 | 申请日 | - |
| 公开(公告)号 | CN114204414A | 公开(公告)日 | 2022-03-18 |
| 申请公布号 | CN114204414A | 申请公布日 | 2022-03-18 |
| 分类号 | H01S5/183(2006.01)I;H01S5/343(2006.01)I | 分类 | 基本电气元件; |
| 发明人 | 方照诒 | 申请(专利权)人 | 深圳市嘉敏利光电有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市道勤知酷知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人 | 何兵 |
| 地址 | 518000广东省深圳市福田区福保街道福保社区红柳道2号顺丰工业厂房1层B125 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要

| 摘要 | 本发明涉及一种光学路径可控高导热、低电阻的VCSEL制作方法及VCSEL,其中该方法包括以下步骤:将MQW层上方的主要DBRAlxiGa1‑xiAs/AlyGa1‑yAs(xi>y,0≤y≤1,且xi由上至下逐渐变大)中高Al%组分AlxiGa1‑xiAs的部分进行完全氧化,使其转变成Al2O3,在所需的光学路径上形成AlxiGa1‑xiAs/AlyGa1‑yAs DBR堆叠结构并使所述AlxiGa1‑xiAs/AlyGa1‑yAs DBR堆叠结构从上至下逐渐变窄,同时通过控制较临近MQW的低Al%组分AlzGa1‑zAs的氧化速率,继而控制中心未被氧化的AlzGa1‑zAs电流孔径的大小,其中Al%组分满足z>xi>y;将外围部分完全氧化所形成的Al2O3以化学刻蚀方式去除,保留光学路径的AlxiGa1‑xiAs/AlyGa1‑yAs DBR堆叠结构;去除外围部分的Al2O3所形成的空间以原子层沉积、溅镀、蒸镀及电镀中的一种或多种组合方式填充欧姆金属,以形成低电阻的电学导通路径。 |





