一种基于湿法腐蚀的薄膜图形刻蚀方法

基本信息

申请号 CN202010980308.2 申请日 -
公开(公告)号 CN112185813A 公开(公告)日 2021-01-05
申请公布号 CN112185813A 申请公布日 2021-01-05
分类号 H01L21/311 分类 基本电气元件;
发明人 陈瑶;丁颖;苏向斌;倪海桥;陈鹏;赵涛 申请(专利权)人 南京信光半导体科技有限公司
代理机构 北京盛凡智荣知识产权代理有限公司 代理人 南京信光半导体科技有限公司
地址 210001 江苏省南京市秦淮区中山东路53 2-1号中山坊C座二楼龙谱科技广场C332
法律状态 -

摘要

摘要 本发明公开了一种基于湿法腐蚀的薄膜图形刻蚀方法,包括以下具体步骤:S1、在衬底上生长缓冲层和牺牲层;S2、在牺牲层上生长或溅镀与牺牲层化学性质不同的薄膜层;S3、在薄膜层上进行光刻工艺,刻蚀所需要的图形;S4、利用湿法腐蚀的加工工艺在薄膜层上刻蚀图案;S5、调配一定比例的腐蚀溶液,用于薄膜层和衬底的分离,最终得到带图案的薄膜工艺。本发明与现有技术相比的优点在于:制备的带有图形结构的薄膜可以应用到多个领域,如耳机,麦克风等,且薄膜厚度可控,在薄膜上可以刻蚀多种图形,工艺步骤简单合理,刻蚀效果好,大大降低了人力物力投入,提高了加工效率和精度,符合目前半导体加工需求,便于推广。