一种超高频弹簧探针测试组件的装配方法
基本信息
申请号 | CN202011500446.2 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN112240947B | 公开(公告)日 | 2021-04-30 |
申请公布号 | CN112240947B | 申请公布日 | 2021-04-30 |
分类号 | G01R3/00 | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 钱晓晨;蔡泓羿 | 申请(专利权)人 | 苏州和林微纳科技股份有限公司 |
代理机构 | 苏州智品专利代理事务所(普通合伙) | 代理人 | 王利斌 |
地址 | 215000 江苏省苏州市高新区峨眉山路80号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明公开了一种超高频弹簧探针测试组件的装配方法,包括钻信号腔体、电源腔体和接地腔体,装配上型芯、下型芯并固化,安装下轴套和上轴套,装入信号探针、电源探针和接地探针,安装上基座,完成探针测试组件的装配。本发明的有益效果是:信号探针通过安装绝缘环实现与信号腔体的同轴结构,信号损耗小;电源腔体在钻孔后插入绝缘的型芯并用胶水粘合,使电源探针与基座间形成双层绝缘结构,其绝缘性好,功率损耗低;接地探针与金属基座直接接触,其导通性能好;同时该装配方法制成的弹簧探针测试组件,避免了现有探针插损与回损过大的情况,提高了芯片频率测试的应用范围及测试效果,能够更好的满足5G及AI时代对高速芯片测试的更高要求。 |
