一种规模化芯片自动测试装置
基本信息
| 申请号 | CN202023268486.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN214097707U | 公开（公告）日 | 2021-08-31 |
| 申请公布号 | CN214097707U | 申请公布日 | 2021-08-31 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 孔江文;朱建兴 | 申请（专利权）人 | 宜宾芯汇信息科技有限公司 |
| 代理机构 | 南京苏科专利代理有限责任公司 | 代理人 | 陈忠辉 |
| 地址 | 644000四川省宜宾市翠屏区智能终端产业园A区1栋4楼 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型揭示了一种规模化芯片自动测试装置，具有营造芯片运行环境的控温箱及穿接于控温箱内外、连接电源与测试板的供电线路，其特征在于：该装置设有在控温箱内与所有待测芯片相连的总线，且总线通过线缆连至控温箱外的上位机，形成上位机与各待测芯片的通信，所有待测芯片的状态实时记录于上位机的测试日志中。应用本实用新型该装置，实现了节省人工，把芯片失效时间精确记录到秒级，而且通过供电线路的开关控制和测试板级联，分别提高了测试作业的安全性和规模扩展性。 |
