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基于同颗芯片的ADC测试电路

基本信息

申请号 CN202023305325.0 申请日 -
公开（公告）号 CN214097709U 公开（公告）日 2021-08-31
申请公布号 CN214097709U 申请公布日 2021-08-31
分类号 G01R31/28（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 李宁;徐建华 申请（专利权）人 宜宾芯汇信息科技有限公司
代理机构 南京苏科专利代理有限责任公司 代理人 陈忠辉
地址 644000四川省宜宾市翠屏区智能终端产业园A区1栋4楼
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型揭示了一种基于同颗芯片的ADC测试电路，其特征在于：基于芯片内ADC模块、DAC模块及模块间的逻辑操控回路相接构成，其中逻辑操控回路为包含电阻R1~电阻Rn的串联电路，其中n的取值对应大于ADC模块的通道数量，DAC模块的两条通道接入逻辑操控回路，任意两相邻电阻间的节点分路接入ADC模块的全部通道引脚。该DAC模块根据ADC模块采样频率周期性切换对应逻辑操控回路的电压输入。应用实用新型该测试电路，通过使用较少的DAC通道来给ADC模块所有通道提供不断变化的电压输入，易于跟随ADC模块的采样频率而受控灵活、规律性变化，满足了ADC测试对输入信号的要求，从而也一定程度上降低了测试成本。