基于GAYOLOv3_Tiny电子元器件表面缺陷检测方法
基本信息
| 申请号 | CN202210354415.3 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114677355A | 公开（公告）日 | 2022-06-28 |
| 申请公布号 | CN114677355A | 申请公布日 | 2022-06-28 |
| 分类号 | G06T7/00（2017.01）I;G06T1/20（2006.01）I;G06N3/08（2006.01）I;G06N3/04（2006.01）I;G06V10/82（2022.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 杨艳;耿涛;谢金博;王业琴;庄昊;王举 | 申请（专利权）人 | 淮阴工学院 |
| 代理机构 | 淮安市科文知识产权事务所 | 代理人 | - |
| 地址 | 223400江苏省淮安市涟水县海安路10号安东大厦8楼 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及视觉检测技术领域，公开了一种基于GAYOLOv3_Tiny电子元器件表面缺陷检测方法，包括：获取电子元器件表面缺陷图像；对图像分组，将其分为两条独立分支，对前n组、后m组分别使用不同的卷积核进行卷积，并将得到的图像模块输入到通道注意力模块和空间注意力模块中，分别生成通道注意力权重特征图和空间注意力权重特征图；最终得到同时具有通道权重和空间权重的特征图，再分别将前n组、后m组得到的特征图拼接，最终将两条独立分支得到的特征图传输至检测器中；使用NMS算法从中做出最优选择。与现有技术相比，解决了当前人工抽检的低效与人工抽检的不稳定性的问题，并且降低了芯片使用要求，为工业生产降低成本变得可能。 |
