一种用于激光器芯片集成测试的方法及系统
基本信息
| 申请号 | CN202011342433.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112147490B | 公开（公告）日 | 2021-03-02 |
| 申请公布号 | CN112147490B | 申请公布日 | 2021-03-02 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 张华;薛银飞;黄河 | 申请（专利权）人 | 上海菲莱测试技术有限公司 |
| 代理机构 | 北京轻创知识产权代理有限公司 | 代理人 | 黄启兵 |
| 地址 | 200120上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区祥科路111号3号楼717室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种用于激光器芯片集成测试的方法及系统，所述方法包括：获得第一激光器芯片的第一需求信息和第一测试环境信息；判断第一测试环境信息是否满足第一预设条件；若满足获得第一操作命令；分别获得第一、二温度梯度差值对第一激光器芯片温度的第一、二影响度；判断第一、二影响度是否处于预设影响度阈值范围；如果均处于，将光谱测试仪与第一激光器芯片连接；获得第一激光器芯片的实时光谱数据信息；获得第一激光器芯片的实时芯片结温信息和预设芯片结温信息；判断实时芯片结温信息是否处于预设芯片结温信息范围内；若处于，则获得第二操作命令。解决了传统的需要两台设备进行需求测试，以及需要人为干预测试的技术问题。 |
