一种激光器芯片老化和LIV测试检测方法、系统
基本信息
| 申请号 | CN202011038287.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN111880087A | 公开（公告）日 | 2020-11-03 |
| 申请公布号 | CN111880087A | 申请公布日 | 2020-11-03 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01)I;H01S3/00(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 张华;薛银飞;黄河 | 申请（专利权）人 | 上海菲莱测试技术有限公司 |
| 代理机构 | 北京轻创知识产权代理有限公司 | 代理人 | 上海菲莱测试技术有限公司 |
| 地址 | 201210上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区祥科路111号3号楼717室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供一种激光器芯片老化和LIV测试的检测方法、系统，处理器根据上位机指示进行老化和LIV测试;处理器通过控制热沉及加热模块给芯片载具加热，直到温度稳定在预先设定的温度值，处理器再对每一颗芯片进行加电，回读加载在芯片上的电流值和电压值及光功率值；在进行LIV测试流程时，对加电控制和电流电压监控模块采用的加电方式是步进式扫描，并间隔固定的时间回读加载在芯片上的电流值和电压值及激光器芯片的光功率值，处理器将获取的值通过通讯接口发送给上位机；上位机显示所获取的信息；本发明能提高激光器芯片检测效率、减少占地资源并能实现设备的复用率。 |
