芯片电容电子元器件用倾斜式外观检测设备
基本信息
| 申请号 | CN202021943954.3 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN213148763U | 公开（公告）日 | 2021-05-07 |
| 申请公布号 | CN213148763U | 申请公布日 | 2021-05-07 |
| 分类号 | G01N21/88(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I | 分类 | - |
| 发明人 | 陈垚;龚博;陈悦安;魏华良;罗星 | 申请（专利权）人 | 珠海市奥德维科技有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 519075广东省珠海市前山沥溪工业园福田路10号博杰电子1栋1楼珠海市奥德维科技有限公司 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 实用新型公开了芯片电容电子元器件用倾斜式外观检测设备，包括基台，基台的顶部固接有安装板，安装板靠近顶端的外侧壁固接有安装座，安装座上转动连接有第一滑台，第一滑台上固接有固定座，固定座上固接有检测部，安装板的侧壁还滑动连接有第二滑台，安装板的侧壁还设有伸缩组件，伸缩组件的伸缩端与第二滑台的底端转动相连；本实用新型克服了芯片电容高度过低、元件过薄带来的检测成像困难等问题，能够对芯片电容的凹坑、露瓷、异色、卷边、缺角、发黄、崩瓷、污染划痕等等多种外观缺陷进行检测。 |
