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一种新型集成电路测试结构

基本信息

申请号 CN202021937403.6 申请日 -
公开（公告）号 CN213423243U 公开（公告）日 2021-06-11
申请公布号 CN213423243U 申请公布日 2021-06-11
分类号 G01R1/04（2006.01）I;G01R31/28（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 刘加美;曹芳;刘俊呈 申请（专利权）人 南京禅生半导体科技有限公司
代理机构 上海汇齐专利代理事务所（普通合伙） 代理人 朱明福
地址 211805江苏省南京市浦口区桥林街道步月路29号12幢446
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型涉及集成电路测试技术领域，公开了一种新型集成电路测试结构，包括测试底座，测试底座的顶面上设有调节丝杠和第一滑杆，调节丝杠上螺接有调节丝杠螺母，测试底座的上方设置有电路板压板，电路板压板的顶面上开设有多条第一滑槽和第二滑槽，多条第一滑槽内均设有夹紧丝杠，夹紧丝杠上螺接有夹紧丝杠螺母，夹紧丝杠螺母上固接有第一滑块，第一滑块上设有第一夹块，多条第二滑槽内均设有第二滑杆，第二滑杆上滑动连接有第二滑块，第二滑块上设有第二夹块，第一滑块和第二滑块通过设置连接块固接在一起；本实用新型具有保证引脚插接孔不易损坏、延长引脚插接孔使用寿命、保证后期测试准确性的特点。