平板探测器的坏点校正方法
基本信息
| 申请号 | CN201510232797.2 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN104835125B | 公开（公告）日 | 2018-04-03 |
| 申请公布号 | CN104835125B | 申请公布日 | 2018-04-03 |
| 分类号 | G06T5/00 | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 陈永丽;牛杰;胡扬;崔凯;张文日 | 申请（专利权）人 | 联影（常州）医疗科技有限公司 |
| 代理机构 | 上海思微知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 上海联影医疗科技有限公司;联影（常州）医疗科技有限公司 |
| 地址 | 201815 上海市嘉定区城北路2258号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供一种平板探测器的坏点校正方法，是对平板探测器进行坏点识别，将坏点分为第一类坏点和第二类坏点，并分别采取不同的方法校正第一类坏点和第二类坏点。此方法分别对相对独立的坏点和相对集中的坏点采取不同的方法进行校正，可以降低校正难度，提高校正的准确性。 |
