一种集成电路测试设备的多功能测试板及测试方法
基本信息
申请号 | CN201910027300.1 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN109444725A | 公开(公告)日 | 2019-03-08 |
申请公布号 | CN109444725A | 申请公布日 | 2019-03-08 |
分类号 | G01R31/28(2006.01)I | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 乔志园 | 申请(专利权)人 | 西安君信电子科技有限责任公司 |
代理机构 | 深圳市精英专利事务所 | 代理人 | 西安君信电子科技有限责任公司 |
地址 | 710000 陕西省西安市国家民用航天产业基地神舟四路航创国际广场2栋401室 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明涉及一种集成电路测试设备的多功能测试板及测试方法,该多功能测试板包括加载板、测试主板以及接口板,加载板与测试仪连接,测试主板分别与加载板以及接口板连接,接口板通过夹具与集成电路连接,测试主板上设有待测集成电路U1以及切换元件,加载板与切换元件连接,切换元件与接口板连接,接口板与待测集成电路U1连接;加载板与接口板连接;通过切换该切换元件,以使加载板与接口板及待测集成电路U1之间不同通道连接,以进行不同集成电路的测试。本发明可同时测试多个同类型或不同类型的集成电路,测试成本低、周期短、效率高;覆盖多种电参数测试,测试结果可靠性强;采用语音反馈测试结果,更加直观、人性化。 |
