存储器芯片的动态老化测试装置专利查询专利号|摘要-满商公司网

存储器芯片的动态老化测试装置

基本信息

申请号	CN201920046768.0	申请日	-
公开（公告）号	CN209486213U	公开（公告）日	2019-10-11
申请公布号	CN209486213U	申请公布日	2019-10-11
分类号	G01R31/00	分类	测量；测试;
发明人	宋晓力;庞戈;罗鑫锋;郭莉	申请（专利权）人	西安君信电子科技有限责任公司
代理机构	深圳市精英专利事务所	代理人	冯筠
地址	710000 陕西省西安市国家民用航天产业基地神舟四路航创国际广场2栋401室
法律状态	-

摘要

本实用新型涉及存储器芯片的动态老化测试装置，包括柜体、显示结构、温控器以及若干个加热盒，柜体内设有若干个供加热盒插设在内的插槽，温控器设于柜体上，且插槽内设有老化板，加热盒与插槽内的老化板连接，加热盒与温控器连接，显示结构与老化板连接，加热盒包括夹持功率器件的夹具以及加热片，加热片与温控器连接，加热片与夹具连接。本实用新型通过设置单独的加热盒对夹具以及功率器件进行加热，避免控制器的故障，降低更换成本，功率器件与老化板的连接方面采用夹具内的工位设置的探针，配合与探针连接的金手指，该金手指与老化板连接，从而实现对功率器件的老化测试，柜体上设置多个插槽，可同时进行多个存储器芯片的老化测试，提高产能。