用于复杂表面的X射线应力测量仪及测量方法、存储介质
基本信息
| 申请号 | CN201910605907.3 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN110375901B | 公开（公告）日 | 2022-01-25 |
| 申请公布号 | CN110375901B | 申请公布日 | 2022-01-25 |
| 分类号 | G01L1/25（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 桑竹;贡志锋;侯晓东;张书彦;张鹏 | 申请（专利权）人 | 广东书彦材料基因创新科技有限公司 |
| 代理机构 | 广州市越秀区哲力专利商标事务所（普通合伙） | 代理人 | 汤喜友 |
| 地址 | 523808广东省东莞市松山湖高新技术产业开发区礼宾路1号松山湖控股大厦9楼 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种用于复杂表面的X射线应力测量仪及测量方法。本发明用于复杂表面的X射线应力测量仪包括：激光扫描仪、用于安装在待测物体上的若干定位球、主机和多自由度机械臂，激光扫描仪用于获取待测物体的三维形态模型；多自由度机械臂上设有二次定位摄像机，二次定位摄像机用于获取定位球与多自由度机械臂的实时相对位置；多自由度机械臂安装有用于测量待测位置残余应力的X射线应力测量头；X射线应力测量头与主机连接，所述多自由度机械臂与主机连接。本发明通过得到待测位置三维坐标系中的位置信息，通过主机控制控制X射线应力测量头移动，可满足复杂表面的残余应力测量需求，减少现场应力测量时间及人工成本。 |
