一种金属镀层测厚仪
基本信息
| 申请号 | CN201920569958.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN209512812U | 公开（公告）日 | 2019-10-18 |
| 申请公布号 | CN209512812U | 申请公布日 | 2019-10-18 |
| 分类号 | G01B21/08（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 郑振军; 郑石磊; 刘卫卫; 陈莉; 詹文峰; 黄敏 | 申请（专利权）人 | 浙江和睿半导体科技有限公司 |
| 代理机构 | 衢州维创维邦专利代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 浙江和睿半导体科技有限公司 |
| 地址 | 325600 浙江省温州市乐清市乐清经济开发区纬十六路288号3号楼（跃华控股集团有限公司内） | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种金属镀层测厚仪，包括金属镀层测厚仪、数据线和探测头，所述金属镀层测厚仪的上方连接有数据线，且数据线上安装有探测头，所述探测头的外侧设置有套筒，且套筒的外侧安装有横板，所述横板的下方安装有吸盘，且吸盘位于套筒的外侧，所述套筒的内侧预留有竖槽，且竖槽的内侧设置有限位杆，所述调节环位于探测头的外侧，且调节环的下方安装有连接环。该金属镀层测厚仪，方便将探测头稳定安装在待测物体的表面，从而使得探测头能够稳定贴合在待测物体表面的镀层上，能够避免需要用户对探测头进行稳定扶持，降低了用户的劳动强度的同时提高了探测头进行安装的稳定性。 |
