一种测试治具新型探针
基本信息
| 申请号 | CN201710855106.3 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN107607753B | 公开（公告）日 | 2021-08-17 |
| 申请公布号 | CN107607753B | 申请公布日 | 2021-08-17 |
| 分类号 | G01R1/067 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 李鹏;李作鹏;杨洁;梅得军;李晓华 | 申请（专利权）人 | 上达电子（深圳）股份有限公司 |
| 代理机构 | 北京商专永信知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 许春兰;李彬彬 |
| 地址 | 518104 广东省深圳市宝安区沙井街道黄埔社区南环路黄埔润和工业园A栋厂房1-4层、D栋2-3层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开一种测试治具新型探针，包括测试端部、中部、连接底部和贯穿于测试端部、中部、连接底部的测试针，位于连接底部的测试针的端部连有金属弹簧；探针使用前，需要对FPC焊盘位置进行钻孔，钻孔后将探针置于孔内固定，测试端部的测试针稍微凸出于孔的表面并接触到FPC的测试点，与FPC相连接，起到接触测试导通的作用，连接底部的测试针连有金属弹簧，弹簧的弹性韧性都要强于传统探针自身弹簧特性，对测试针起到缓冲保护作用，对产品不会造成压痕，耐用磨损小，生产率提高，具有良好的弹性，金属弹簧连接在插排上面，插排通过专用数据线与电脑相连接，从而达到测试的效果。 |
