芯片测试座
基本信息
| 申请号 | CN202120939515.3 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN213398670U | 公开（公告）日 | 2021-06-08 |
| 申请公布号 | CN213398670U | 申请公布日 | 2021-06-08 |
| 分类号 | G01R1/04;G01R31/28 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 张勇文;袁小云 | 申请（专利权）人 | 四川蕊源集成电路科技有限公司 |
| 代理机构 | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 | 代理人 | 封浪 |
| 地址 | 611730 四川省成都市郫都区成都现代工业港南片区德源镇菁德路36号1号楼1层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种芯片测试座，涉及芯片测试技术领域，它包括连接在测试电路板上的连接座、与连接座连接的固定座和安装座；固定座上设置有弹性件，安装座固定在弹性件上，且其上安装有芯片。连接座安装在测试电路板的正上方，固定座和安装座设置在连接座上，也位于测试电路板的正上方，向安装座施加向下的压力，安装座压缩弹性件，带动位于安装座上的芯片向靠近测试电路板的方向移动，使得芯片的引脚能够接触到测试电路板的对应触点。测试电路板通电顺序就不需要严格固定，使用本测试座测试芯片时不会完全依赖于操作人员的经验，对于经验不足的操作人员，也会快速进入测试状态，相对提高测试芯片的速度，进而减少对测试效率的影响。 |
