U型GaN层的生长方法、U型GaN层和半导体晶体管
基本信息
申请号 | CN201911357262.2 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN111081535A | 公开(公告)日 | 2020-04-28 |
申请公布号 | CN111081535A | 申请公布日 | 2020-04-28 |
分类号 | H01L21/205;H01L29/20 | 分类 | 基本电气元件; |
发明人 | 杨鑫;关永莉;米洪龙;吴小强;杨杰;申江涛;陕志芳;樊明明 | 申请(专利权)人 | 山西飞虹微纳米光电科技有限公司 |
代理机构 | - | 代理人 | - |
地址 | 041609 山西省临汾市洪洞县甘亭镇燕壁村 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明提供一种U型GaN层的生长方法、U型GaN层和半导体晶体管,属于半导体生产领域。包括:S1,采用GaN材料在衬底上纵向生长,得到初始U型GaN层;S2,在初始U型GaN层上由3D纵向生长向2D横向生长过渡,得到U型GaN过渡层;S3,在U型GaN过渡层上横向生长;S4,在S3得到的U型GaN层上继续横向生长,使生长得到的U型GaN层的表面平整。本发明通过在纵向生长与横向生长之间增加由3D纵向生长向2D横向生长过渡的阶段,使得由纵向生长到横向生长是慢慢过渡的,并通过调整生长过程中MOCVD设备的各项参数,提高了晶体质量、位错密度及内量子效率,使得生长得到的U型GaN层的表面缺陷大大减少,因而提高了产品良率。 |
