U型GaN层的生长方法、U型GaN层和半导体晶体管

基本信息

申请号 CN201911357262.2 申请日 -
公开(公告)号 CN111081535A 公开(公告)日 2020-04-28
申请公布号 CN111081535A 申请公布日 2020-04-28
分类号 H01L21/205;H01L29/20 分类 基本电气元件;
发明人 杨鑫;关永莉;米洪龙;吴小强;杨杰;申江涛;陕志芳;樊明明 申请(专利权)人 山西飞虹微纳米光电科技有限公司
代理机构 - 代理人 -
地址 041609 山西省临汾市洪洞县甘亭镇燕壁村
法律状态 -

摘要

摘要 本发明提供一种U型GaN层的生长方法、U型GaN层和半导体晶体管,属于半导体生产领域。包括:S1,采用GaN材料在衬底上纵向生长,得到初始U型GaN层;S2,在初始U型GaN层上由3D纵向生长向2D横向生长过渡,得到U型GaN过渡层;S3,在U型GaN过渡层上横向生长;S4,在S3得到的U型GaN层上继续横向生长,使生长得到的U型GaN层的表面平整。本发明通过在纵向生长与横向生长之间增加由3D纵向生长向2D横向生长过渡的阶段,使得由纵向生长到横向生长是慢慢过渡的,并通过调整生长过程中MOCVD设备的各项参数,提高了晶体质量、位错密度及内量子效率,使得生长得到的U型GaN层的表面缺陷大大减少,因而提高了产品良率。