BTM老化测试系统
基本信息
| 申请号 | CN201810535934.3 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN108574542A | 公开（公告）日 | 2018-09-25 |
| 申请公布号 | CN108574542A | 申请公布日 | 2018-09-25 |
| 分类号 | H04B17/18;H04B17/29 | 分类 | 电通信技术; |
| 发明人 | 王舒民;王耀辉;刘铁托 | 申请（专利权）人 | 黄骅市交大思诺科技有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 102206 北京市昌平区回龙观镇立业路3号院2号楼1层101 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明的BTM老化测试系统，包括A接口模拟装置、上位机、串口服务器、被测的BTM主机；上位机通过串口服务器与BTM主机通讯；A接口模拟装置通过BTM天线电缆与BTM主机连接；A接口模拟装置包括射频电阻、RSG、27MHz滤波板、射频连接器；射频电阻作为负载，代替BTM天线，用于吸收BTM主机发射的27MHz射频信号能量；RSG的程序中包含测试报文，定时为BTM主机发送4.23MHz报文信息；射频连接器连接BTM天线电缆、射频电阻和27MHz滤波板，并传输信号；BTM老化测试系统通能对多台被测的BTM主机的运行状态实时监测，实现高效率批量老化测试；同时该系统消除了老化过程中的电磁辐射及电磁干扰。 |
