一种基于深度学习的薄膜表面缺陷检测方法、系统及设备专利查询专利号|摘要-满商公司网

一种基于深度学习的薄膜表面缺陷检测方法、系统及设备

基本信息

申请号	CN201910694129.X	申请日	-
公开（公告）号	CN110473179A	公开（公告）日	2019-11-19
申请公布号	CN110473179A	申请公布日	2019-11-19
分类号	G06T7/00;G06K9/62;G06N20/00	分类	计算；推算；计数;
发明人	毛雪慧;陈果;闫龑;王洋	申请（专利权）人	上海深视信息科技有限公司
代理机构	上海精晟知识产权代理有限公司	代理人	上海深视信息科技有限公司
地址	200241 上海市闵行区东川路555号乙楼1027室
法律状态	-

摘要

本发明提供了一种基于深度学习的薄膜表面缺陷检测方法、系统及设备。一种基于深度学习的薄膜表面缺陷检测方法包括S1：对检材正面进行图像采集；S2：对所述检材反面进行所述图像采集；S3：进行图像预处理；S4：进行轮廓外观缺陷检测；S5：判断轮廓检测结果；S6：使用多通道进行融合，得到多通道融合图像；S7：导入预先训练好的深度学习模型中。一种基于深度学习的薄膜表面缺陷检测系统包括图像采集模块、图像预处理模块、图像融合模块和图像检测模块；一种基于深度学习的薄膜表面缺陷检测设备包括存储器和处理器。本发明的有益效果是：可在成本低廉前提下，对光学薄膜缺陷进行有效识别，减少人工成本，提高识别效率，且部署简单，可重复性较高。