一种新型晶片自动测频机构
基本信息
| 申请号 | CN202122074074.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN215865060U | 公开（公告）日 | 2022-02-18 |
| 申请公布号 | CN215865060U | 申请公布日 | 2022-02-18 |
| 分类号 | G01B7/06（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 唐志强 | 申请（专利权）人 | 绍兴奥美电子科技有限公司 |
| 代理机构 | 杭州六方于义专利代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 施少锋 |
| 地址 | 312500浙江省绍兴市新昌县七星街道省级高新技术园区内新涛路69号美盛文化6号厂房（住所申报） | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种新型晶片自动测频机构，包括金属电极、频率‑厚度信号转换器、显示装置、第一电机和第二电机，金属电极包括上电极模块和下电极模块，第二电机转动连接有转盘，下电极模块设于转盘上，将晶片吸取到下电极模块上，通过第二电机控制转盘转动，再通过第一电机控制上电极模块下降，上电极模块接触下电极模块上的晶片。上电极模块的输出端连接频率‑厚度信号转换器的输入端，用于输出晶片的频率，频率‑厚度信号转换器的输出端连接显示装置的输入端，用于实时接受频率，并将频率转换为厚度数据，输出该厚度数据。本实用新型能对不同的晶片进行连续测频，提高测频效率，而且具有对频率进行高精度测量的能力，实现厚度的精确监测。 |
