芯片测试治具
基本信息
| 申请号 | CN202011061749.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112415359A | 公开（公告）日 | 2021-02-26 |
| 申请公布号 | CN112415359A | 申请公布日 | 2021-02-26 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 王泰山;刘文斌;李成鹏;蓝清锋 | 申请（专利权）人 | 深圳瑞波光电子有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市威世博知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 黎坚怡 |
| 地址 | 518052广东省深圳市南山区西丽镇茶光路1089号深圳集成电路设计应用产业园404 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申请公开了一种芯片测试治具。该芯片测试治具包括：散热座，设有连通的管脚孔和容置腔；绝缘件，固定于容置腔内，设有安装孔，安装孔与管脚孔连通；给电件，固定于安装孔；其中，散热座用于与芯片的热沉相接触，芯片的管脚经管脚孔与给电件电连接，经给电件上电以对芯片进行测试。通过将绝缘件设置于散热座的容置腔，给电件设置于绝缘件的安装孔，且安装孔与散热座的管脚孔相通，本申请提供的芯片测试治具能够给电可靠且可实现提高连续注入的测试电流值。 |
