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一种MEMS加速度计自动批量标定方法

基本信息

申请号 CN202010263665.7 申请日 -
公开（公告）号 CN111337709A 公开（公告）日 2020-06-26
申请公布号 CN111337709A 申请公布日 2020-06-26
分类号 G01P21/00(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 李政华;张婷婷;沈旭东 申请（专利权）人 嘉兴恩湃电子有限公司
代理机构 嘉兴启帆专利代理事务所（普通合伙） 代理人 嘉兴恩湃电子技术有限公司
地址 314006浙江省嘉兴市南湖区大桥镇亚太工业园区（A9）363号
法律状态 -

摘要

摘要 本发明公开了一种MEMS加速度计自动批量标定方法，包括以下步骤：步骤S1：一LabVIEW上位机控制一线性电源向位于一PCB测试工装的待测试的至少一芯片供电，当所述LabVIEW上位机判断所述芯片得电后执行步骤S2，否则重复执行步骤S1；步骤S2：所述LabVIEW上位机通过一SPI适配器向所述芯片写入烧录值的初始值或者修正值；步骤S3：所述LabVIEW上位机控制一精密旋转台转动预设的若干角度，使得所述芯片被置于相应的若干位置。本发明公开的MEMS加速度计自动批量标定方法，其有益效果在于，节省测试时间，提高测试效率，可以进行批量测试。