用于芯片的输入参数测试电路及方法
基本信息
| 申请号 | CN202111084023.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113533943B | 公开（公告）日 | 2021-12-07 |
| 申请公布号 | CN113533943B | 申请公布日 | 2021-12-07 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）I;G01R1/04（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 鲁翔;李炜 | 申请（专利权）人 | 深圳市爱普特微电子有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 | 代理人 | 车大莹;郭伟刚 |
| 地址 | 518000广东省深圳市南山区西丽街道西丽社区打石一路深圳国际创新谷八栋A座1702 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及用于芯片的输入参数测试电路，测试电路包含在芯片中，包括多个串联的测试单元，每个测试单元包括：第一端，连接封装管脚或未封装管脚；第二端，连接上一级测试单元的输出；控制模块，用于在初始化阶段，将连接封装管脚的测试单元设置为激活状态，将连接未封装管脚的测试单元设置为旁路状态。本发明在初始化阶段，将连接未封装管脚的测试单元设置为旁路状态，则在随后的测试过程中，该测试单元被排除在测试链路之外，利用设置为激活状态的测试单元，对封装管脚进行测试。由此，通过增加一个初始化步骤，可以实现根据封装形式，自动调整测试单元的结构，从而实现测试TREE的最小化。 |
