缺陷分类方法、装置、设备及存储介质
基本信息
| 申请号 | CN202111477092.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113888539B | 公开（公告）日 | 2022-03-15 |
| 申请公布号 | CN113888539B | 申请公布日 | 2022-03-15 |
| 分类号 | G06T7/00（2017.01）I;G06T7/136（2017.01）I;G06T7/62（2017.01）I;G06T7/64（2017.01）I;G06T7/90（2017.01）I;G06V10/764（2022.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 李谭军 | 申请（专利权）人 | 蓝思科技股份有限公司 |
| 代理机构 | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人 | 任洁芳 |
| 地址 | 410311湖南省长沙市浏阳市生物医药园蓝思科技股份有限公司 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种缺陷分类方法、装置、设备及存储介质，涉及玻璃盖板缺陷检测技术领域，解决了现有技术中电子产品的玻璃盖板检测行业的AOI设备不够成熟，无法有效区分玻璃盖板的脏污和真缺陷的技术问题。该方法包括：获取光源对待检测的玻璃盖板照射得到的玻璃盖板的亮场反射光图像和暗场透射光图像；分别提取亮场反射光图像和暗场透射光图像中的缺陷部位，得到亮场缺陷图像和暗场缺陷图像；合并亮场缺陷图像和暗场缺陷图像得到组合图像，其中，组合图像中包含有同一缺陷的亮场图像和暗场图像；根据脏污分类条件和组合图像中缺陷部位的图像特征对组合图像中的缺陷进行分类，以判定组合图像中的缺陷是否为脏污。 |
