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一种32位MCU芯片测试的扫描模块

基本信息

申请号	CN202121608283.X	申请日	-
公开（公告）号	CN214953080U	公开（公告）日	2021-11-30
申请公布号	CN214953080U	申请公布日	2021-11-30
分类号	G01N21/84（2006.01）I;G01N21/01（2006.01）I	分类	测量；测试;
发明人	彭勇;朱娟娟;刘天阳	申请（专利权）人	合肥市华达半导体有限公司
代理机构	合肥方舟知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	刘跃
地址	230000安徽省合肥市高新区望江西路860号合芜蚌实验区科技创新公共服务和应用技术研发中心B栋六楼
法律状态	-

摘要

本实用新型公开了一种32位MCU芯片测试的扫描模块，包括固定盘、步进电机、转轴、连接架、侧检测罩、A视觉传感器、顶检测盘、B视觉传感器，所述的步进电机固设于固定盘顶部，所述的转轴固设于步进电机底部中端，所述的连接架固设于转轴左侧，所述的侧检测罩固设于连接架右侧，所述的A视觉传感器均匀固设于侧检测罩右侧，所述的顶检测盘固设于转轴底部，所述的B视觉传感器均匀固设于顶检测盘底部，首先视觉传感器和B视觉传感器配合能够对芯片顶面和侧面进行视觉检测，提高检测范围和角度，其次步进电机能够驱动转轴带动连接架、侧检测罩、A视觉传感器、顶检测盘和B视觉传感器同步旋转，利于视觉传感器环绕芯片一周，进一步提高了检测范围。