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一种基于32位MCU芯片测试的智能探针卡

基本信息

申请号	CN202110799908.3	申请日	-
公开（公告）号	CN113504397A	公开（公告）日	2021-10-15
申请公布号	CN113504397A	申请公布日	2021-10-15
分类号	G01R1/073（2006.01）I	分类	测量；测试;
发明人	彭勇;朱娟娟;刘天阳	申请（专利权）人	合肥市华达半导体有限公司
代理机构	合肥方舟知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	刘跃
地址	230000安徽省合肥市高新区望江西路860号合芜蚌实验区科技创新公共服务和应用技术研发中心B栋六楼
法律状态	-

摘要

本发明公开了一种基于32位MCU芯片测试的智能探针卡，所述的微型电磁铁从上至下固设于基板内部中端，所述的继电器固设于基板前端下侧，所述的视觉检测器固设于基板前端左右两侧，所述的探针从上至下滑动设于基板内部左右两侧，所述的挡板固设于探针外壁，所述的弹簧固设于挡板侧壁，所述的绝缘套固设于探针内侧端口，所述的铁芯固设于绝缘套内部，首先探针能对芯片进行信号检测，其次视觉检测器能够扫描所需检测的芯片型号，最后根据检测结果利于控制微型电磁铁和继电器，使得铁芯带动绝缘套联动探针和挡板克服弹簧的回弹性进行滑动，通过上述，能够根据所需检测的芯片型号来匹配相应位置探针，满足多个型号芯片的测试，同时也达到智能调控目的。