一种印刷品缺陷检测方法
基本信息
| 申请号 | CN202011276192.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112508826B | 公开（公告）日 | 2022-03-01 |
| 申请公布号 | CN112508826B | 申请公布日 | 2022-03-01 |
| 分类号 | G06T5/20（2006.01）I;G06T5/00（2006.01）I;G06T7/00（2017.01）I;G06T7/11（2017.01）I;G06T7/13（2017.01）I;G06T7/33（2017.01）I;G06T7/73（2017.01）I;G06T3/00（2006.01）I;G06K9/62（2022.01）I;G06V10/44（2022.01）I;G06V10/74（2022.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 李东明;卢光明;范元一;陈勇杰 | 申请（专利权）人 | 深圳富联富桂精密工业有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市添源知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 黎健任 |
| 地址 | 518000 广东省深圳市南山区桃源街道深圳大学城哈尔滨工业大学校区 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供了一种基于特征配准及梯度形状匹配融合的印刷品缺陷检测方法，包括制作标准模板图像步骤、待测图像初次定位配准步骤、基于AKAZE特征点的二次配准步骤、提取潜在缺陷区域及掩模步骤、基于图像梯度特征及改进余弦相似度匹配算法判别真伪缺陷步骤和缺陷融合判定及可视化步骤。本发明的有益效果是：本发明基于非线性尺度空间的AKAZE特征点二次配准矫正，在保留真缺陷的前提下对待测图像进行有效的配准，更有利于后续的伪影剔除及缺陷检测。本发明对潜在缺陷范围加以限制，避免由于潜在缺陷的膨胀导致粘连，导致缺陷区域对得分的影响减弱。潜在缺陷区域掩模的引入，只保留潜在缺陷本身的信息，屏蔽潜在缺陷外的信息，能有效去除缺陷外的图像对特征提取的干扰。本发明的缺陷判别只针对潜在缺陷区域采用改进的余弦相似度形状匹配算法，引入非线性激活函数同步考虑图像梯度向量的方向和长度对相似度得分的影响。 |
