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一种基于ATE芯片测试的同步方法和系统

基本信息

申请号 CN202110648250.6 申请日 -
公开（公告）号 CN113407396A 公开（公告）日 2021-09-17
申请公布号 CN113407396A 申请公布日 2021-09-17
分类号 G06F11/22（2006.01）I 分类 计算；推算；计数;
发明人 邬刚;莫保健 申请（专利权）人 杭州加速科技有限公司
代理机构 浙江杭知桥律师事务所 代理人 陈丽霞
地址 310000浙江省杭州市余杭区余杭街道文一西路1818-1号1幢103M室
法律状态 -

摘要

摘要 本发明涉及ATE芯片测试技术，公开了一种基于ATE芯片测试的同步方法和系统，其包括主控CPU下发芯片测试程序至主控FPGA，主控FPGA发送芯片测试程序至业务板，业务板上的FPGA芯片测试执行模块同步启动测试；业务板FPGA芯片测试执行模块进行测试程序的运行；业务板FPGA芯片测试执行模块对芯片测试结果进行判断，成功则测试结果信号置高，否则测试结果信号置低；FPGA芯片测试执行模块将测试结果通过背板同步至主控板FPGA的同步控制模块；本发明通过减少ATE设备在芯片过程中数据采集与数据分析的时间，将部分测试结果判断动作放在业务板中实现，从而提高芯片测试效率，降低测试成本。