一种适用于太赫兹安检的透镜轮廓面获取方法和装置
基本信息
| 申请号 | CN201811204518.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN109239917B | 公开（公告）日 | 2021-07-13 |
| 申请公布号 | CN109239917B | 申请公布日 | 2021-07-13 |
| 分类号 | G02B27/00;G02B3/08;H01Q15/02 | 分类 | 光学; |
| 发明人 | 郝丛静;侯培培;李世超;刘瑞强;贾渠 | 申请（专利权）人 | 北京航天易联科技发展有限公司 |
| 代理机构 | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 | 代理人 | 莎日娜 |
| 地址 | 100176 北京市大兴区经济技术开发区锋创科技园18号院24号楼 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供了一种用于太赫兹安检成像系统的透镜聚焦装置，及获取该透镜轮廓面的方法和装置，该方法包括：利用斯涅耳模型和等光程模型，根据不同角度的入射光线，获取透镜表面的多个特征点坐标，根据这些特征点坐标拟合出适合不同角度入射光的透镜轮廓面。本发明通过偏离光轴较大角度的入射光线拟合出透镜轮廓面，来实现双焦透镜对于大角度入射光也能起到良好的聚焦效果，进而可以应用到太赫兹安检成像系统中，提高安检成像分辨率。 |
