激光测距机的光轴校准系统、方法及激光参数测量方法专利查询专利号|摘要-满商公司网

激光测距机的光轴校准系统、方法及激光参数测量方法

基本信息

申请号	CN202011520706.2	申请日	-
公开（公告）号	CN112526489A	公开（公告）日	2021-03-19
申请公布号	CN112526489A	申请公布日	2021-03-19
分类号	G01S7/497(2006.01)I;G01S17/08(2006.01)I	分类	测量；测试;
发明人	蔡震;吴权;吉俊文;张杰;周亦镕;刘建成;陈浩;刘守喜;申君谊;孟令飞;梁晨;邹颖晖	申请（专利权）人	江苏亮点光电科技有限公司
代理机构	-	代理人	-
地址	215123江苏省苏州市工业园区金鸡湖大道99号苏州纳米城17幢501室
法律状态	-

摘要

本发明公开了一种激光测距机的光轴校准系统、方法及激光参数测量方法，其特征在于：包括测试主系统及副系统，所述测试主系统包括白光光源、反射组件及CCD相机，副系统包括三维平台、激光测距机、方管前置镜及角锥棱镜，三维平台调节所述激光测距机及方管前置镜的X、Y、Z机械轴位置，所述白光光源射出的白光经过反射组件后反射出平行光源，到CCD相机形成点光源光斑，构成调节基准点坐标位置；所述方管前置镜观察调节基准点坐标位置，用于校准激光测距机的机械轴位置；所述激光测距机射出的激光经过调节基准点坐标位置对比，用于校准光轴位置。本发明提高了设备校准的精度及效率，也提高了参数测量的精确性，提高了设备后续测距的精确性。