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flash检测方法及其检测系统

基本信息

申请号	CN202110773246.2	申请日	-
公开（公告）号	CN113421606A	公开（公告）日	2021-09-21
申请公布号	CN113421606A	申请公布日	2021-09-21
分类号	G11C29/08（2006.01）I	分类	信息存储;
发明人	杨磊	申请（专利权）人	成都盛芯微科技有限公司
代理机构	-	代理人	-
地址	610041四川省成都市高新区天府五街200号1号楼A区4楼
法律状态	-

摘要

本发明公开了一种flash检测方法及其检测系统，涉及存储技术领域。该flash检测方法包括以下步骤：S1、检测芯片内部是否包括flash存储器：若否，则进入步骤S5；若是，则进入步骤S2；S2、读取所述flash存储器的存储内容；S3、将所述flash存储器内的存储内容通过预设的计算方法进行计算，并将存储内容计算结果与预存的校验值进行对比；S4、判断所述存储内容计算结果与所述校验值是否相同：若不相同，则进入步骤S5；若相同，则发送检测工作完成标志；S5、接收外部命令进行flash自测：若flash存储器检测出坏块，则标记坏块位置，发送坏块位置和检测工作完成标志；若flash存储器无坏块，则发送检测工作完成标志。本发明的检测方法简单、方便，且不受TAP限速。