一种镀膜装置
基本信息
申请号 | CN202023229786.4 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN214218856U | 公开(公告)日 | 2021-09-17 |
申请公布号 | CN214218856U | 申请公布日 | 2021-09-17 |
分类号 | C23C16/50(2006.01)I;C23C16/458(2006.01)I;C23C16/34(2006.01)I | 分类 | 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制〔2〕; |
发明人 | 刘亮;杨彦伟;邹颜 | 申请(专利权)人 | 芯思杰技术(深圳)股份有限公司 |
代理机构 | 深圳智汇远见知识产权代理有限公司 | 代理人 | 艾青;牛悦涵 |
地址 | 518000广东省深圳市南山区学苑大道1001号南山智园A5栋4楼 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本实用新型涉及太阳能电池技术领域,具体涉及一种镀膜装置。镀膜装置包括载板以及辅助部件,载板上开设有凹槽,辅助部件位于凹槽内,辅助部件与凹槽的内壁之间形成一用于放置基片的镀膜空间,且镀膜空间与基片的形状相适配。上述镀膜装置,辅助部件与凹槽的内壁之间形成一与基片的形状相适配的镀膜空间,不仅完整基片在镀膜时的边沿色差有所改善,而且非标准基片在镀膜时的边沿色差也有所改善,只需通过设置在凹槽内的辅助部件,由于辅助部件与凹槽的内壁之间形成合适的镀膜空间,如此,淀积氮化硅的边沿效益只会出现在辅助部件上,而不会影响基片,从而避免氮化硅的堆积对等离子场淀积到基片表面的影响,有效改善在镀膜过程中边沿色差的问题。 |
