X射线源阴极检测方法、检测系统及X射线成像系统
基本信息
| 申请号 | CN201911050792.2 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN110831310A | 公开（公告）日 | 2020-02-21 |
| 申请公布号 | CN110831310A | 申请公布日 | 2020-02-21 |
| 分类号 | H05G1/26;H05G1/54 | 分类 | 其他类目不包含的电技术; |
| 发明人 | 唐华平;李科;董超;秦占峰;张庆辉 | 申请（专利权）人 | 新鸿电子有限公司 |
| 代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 新鸿电子有限公司 |
| 地址 | 213200 江苏省常州市金坛区华城中路1668号国际工业城6号楼 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供了一种X射线源阴极检测方法、检测系统及其使用该检测系统的X射线成像系统，该方法包括以下步骤：检测X射线源阴极的工作状况并获得相应的工作参数；获得X射线源阴极的老化曲线数据，其中，所述老化曲线数据包括环境参数和/或阴极型号参数、批次参数；根据获得的工作参数和对应的老化曲线数据进行计算；以及根据计算的结果获得检测结果，所述检测结果包括阴极的剩余使用寿命和/或故障概率；根据所述计算结果，生成阴极使用列表，在发现高故障概率的情况下，调整阴极使用列表以从所述阴极使用列表中移除高故障概率的阴极。 |
