一种便于使用的BGA元器件透视设备
基本信息

| 申请号 | CN202021775468.5 | 申请日 | - |
| 公开(公告)号 | CN212845112U | 公开(公告)日 | 2021-03-30 |
| 申请公布号 | CN212845112U | 申请公布日 | 2021-03-30 |
| 分类号 | G01N23/04(2018.01)I | 分类 | 测量;测试; |
| 发明人 | 罗超;沈久安;苏毅 | 申请(专利权)人 | 深圳市添富泰电子有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 518104广东省深圳市光明新区公明街道马山头社区第四工业区64栋F | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要

| 摘要 | 本实用新型公开了一种便于使用的BGA元器件透视设备,包括设备外壳,所述设备外壳的下表面靠近两侧位置均固定安装有支撑脚,所述支撑脚的内部开设有吊装插槽,所述设备外壳的前表面靠近一侧位置嵌设有显示屏,且设备外壳的前表面靠近显示屏的下方位置设有操作面板,所述设备外壳的前表面靠近底部位置连接有辅助收纳装置,且设备外壳的前表面靠近另一侧位置设有防护门,所述防护门通过合页与设备外壳活动连接,且防护门的内部靠近中间位置嵌设有观察窗,所述防护门的内部靠近边缘位置连接有门锁。本实用新型所述的一种便于使用的BGA元器件透视设备,属于透视检测设备领域,能够方便对辅助工具进行收纳,且能够对BGA元器件起到压紧的作用。 |





