一种控温的半导体电学特性测试样品架
基本信息
| 申请号 | CN201820836350.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN208207006U | 公开（公告）日 | 2018-12-07 |
| 申请公布号 | CN208207006U | 申请公布日 | 2018-12-07 |
| 分类号 | G01R1/02;G01R1/04 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 祝老二 | 申请（专利权）人 | 重庆博视知识产权服务有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 325002 浙江省温州市鹿城区锦绣路浙南农副产品中心市场(四区)温州市优质农产品展示展销中心大楼8层802室(托管-51) | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种控温的半导体电学特性测试样品架，属于样品架领域，包括主底座，主底座的上端固定连接有保护壳体和照度计，保护壳体的上端固定连接有第一蓄电池，保护壳体固定连接有LED可调光，保护壳体的内下侧设有第二蓄电池，第二蓄电池与主底座固定连接，第二蓄电池的右端电性连接有半导体放置盒，半导体放置盒的右端电性连接有电线，电线的上端电性连接有高压钠灯，半导体放置盒的上端开凿有半导体放置凹槽，半导体放置盒的上端固定连接有一对拉伸弹簧，拉板的上端开凿有螺纹通孔，螺纹通孔内端螺纹连接有螺纹杆，可以有效的测量半导体在不同光照强度下的导电性能，方便技术人员的实验研究，非常具有实用性。 |
