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一种多功能芯片测试插座

基本信息

申请号 CN202021031108.4 申请日 -
公开（公告）号 CN212459784U 公开（公告）日 2021-02-02
申请公布号 CN212459784U 申请公布日 2021-02-02
分类号 G01R1/04(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 丛维;金生 申请（专利权）人 南京优存科技有限公司
代理机构 上海骁象知识产权代理有限公司 代理人 邱丹
地址 210000江苏省南京市江北新区星火路17号创智大厦B座10C-A131
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型公开了一种多功能芯片测试插座，属于芯片测试插座技术领域，其包括测试插座，所述测试插座内壁的左右两侧面均开设有凹槽，且两个凹槽内均卡接有卡块，所述卡块的下表面固定连接有滑块，所述滑块滑动连接在滑槽内，所述滑槽开设在测试壳内壁的下表面，所述测试壳卡接设置在测试插座内。该多功能芯片测试插座，通过设置测试壳、拉环、测试板、活动块、滑块和第二弹簧，使得工作人员在需要将芯片取出时，只需向上拉动拉环即可，在需要安装时，只需通过活动块就可以对芯片进行固定，不仅方便了工作人员安装或取出芯片，且大大提高了检测的效率，减少了大部分繁琐的步骤，且在检测时，芯片不易出现掉落的情况。