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一种芯片测试用辅助固定结构

基本信息

申请号 CN202021031117.3 申请日 -
公开（公告）号 CN212622697U 公开（公告）日 2021-02-26
申请公布号 CN212622697U 申请公布日 2021-02-26
分类号 G01R1/04(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 丛维;金生 申请（专利权）人 南京优存科技有限公司
代理机构 上海骁象知识产权代理有限公司 代理人 刘翔
地址 210000江苏省南京市江北新区星火路17号创智大厦B座10C-A131
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型公开了一种芯片测试用辅助固定结构，属于芯片固定技术领域，其包括盒体，所述盒体内设置有两个齿轮，两个所述齿轮与同一个齿轮相啮合，所述齿杆的底端与滑动组件的上表面固定连接，所述滑动组件卡接在盒体的下表面，所述滑动组件的下表面与压板内壁的下表面固定连接，所述齿杆的顶端固定连接有两个绳索。该芯片测试用辅助固定结构，通过设置压板、夹板、推板、齿杆和第二弹簧，使得齿杆通过两个绳索和两个滑杆带动两侧夹板对芯片的两侧进行限位，其次拉动推板使其与芯片顶部接触，通过推板、夹板和压板对芯片进行多方位限位，使得芯片在测试的过程中不易偏移位置，不易影响测试数据的准确性。