半导体等离子刻蚀腔体等离子体聚焦环
基本信息
申请号 | 2020210582156 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN212392208U | 公开(公告)日 | 2021-01-22 |
申请公布号 | CN212392208U | 申请公布日 | 2021-01-22 |
分类号 | H01J37/32(2006.01)I | 分类 | 基本电气元件; |
发明人 | 廖海涛 | 申请(专利权)人 | 江苏邑文微电子科技有限公司 |
代理机构 | 北京商专润文专利代理事务所(普通合伙) | 代理人 | 邢若兰 |
地址 | 226400江苏省南通市如东县掘港街道金山路1号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本实用新型公开了半导体等离子刻蚀腔体等离子体聚焦环,包括固定环形框架,所述固定环形框架的内侧面开设有台阶槽,所述台阶槽的内侧设置有聚光环本体,所述台阶槽的内侧面且位于聚光环本体的下方固定连接有内侧板,所述内侧板的外侧面与台阶槽的侧面组成一个开口的密封室,所述密封室的内部且靠近开口处设置有环形堵盖,所述聚光环本体的底面固定连接有多个连接杆。本实用新型,通过设置有两组框架结构,且在两组框架结构之间设置有伸缩和连接件结构,能够便于调节聚光环本体的高度,通过在聚光环本体的底面固定连接有连接杆,连接杆的底部延伸至密封室的内部固定连接有悬浮的浮球,能够保证调节的时候聚光环本体水平。 |
