一种光器件耦合测试用带衰减光纤跳线
基本信息
| 申请号 | CN201620113670.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN205374822U | 公开（公告）日 | 2016-07-06 |
| 申请公布号 | CN205374822U | 申请公布日 | 2016-07-06 |
| 分类号 | G02B6/38(2006.01)I | 分类 | 光学; |
| 发明人 | 严付安;杜金能 | 申请（专利权）人 | 四川灿光光电有限公司 |
| 代理机构 | 武汉宇晨专利事务所 | 代理人 | 李鹏;王敏锋 |
| 地址 | 620500 四川省眉山市仁寿县文林工业园区 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种光器件耦合测试用带衰减光纤跳线，包括光接头，光接头与光纤一端连接，光纤另一端依次穿过尾套、安装筒并与插芯座一端连接，插芯座另一端与插芯一端连接，插芯座上套设有弹簧，安装筒内设置有凸台，插芯座上设置有限位环，弹簧两端分别与凸台和限位环相抵，安装筒外套设有内壳，内壳外套设有外壳，外壳与尾套连接，插芯另一端为测试端，测试端依次穿出内壳和外壳，测试端的端面上设置有铜套安装柱，铜套安装柱上安装有铜套，铜套的外径与测试端的外径相同，铜套的端面的中心设置有光通孔。本实用新型采用铜套进行陶瓷插芯端面非接触的隔离介质，待测光器件的陶瓷插芯与铜套接触不会导致待测光器件的陶瓷插芯端面碰伤。 |
