一种钯薄膜氢气传感器
基本信息
申请号 | CN202011581593.7 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN112763660A | 公开(公告)日 | 2021-05-07 |
申请公布号 | CN112763660A | 申请公布日 | 2021-05-07 |
分类号 | G01N33/00(2006.01)I;G01R31/12(2006.01)I | 分类 | - |
发明人 | 沈方平 | 申请(专利权)人 | 苏州芯镁信电子科技有限公司 |
代理机构 | 广州三环专利商标代理有限公司 | 代理人 | 郝传鑫;贾允 |
地址 | 215000江苏省苏州市吴中区东吴北路8号国裕大厦一期1504-3室 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明公开了一种钯薄膜氢气传感器,包括硅衬底、绝缘层、至少一个硅槽、钯合金薄膜组件、屏蔽层与控温组件;其中,钯合金薄膜组件包括对称设置的第一钯合金薄膜与第二钯合金薄膜;屏蔽层位于绝缘层上,并且还开设吸收窗口,吸收窗口与第一钯合金薄膜对应设置,用于供第一钯合金薄膜与氢气接触;控温组件包括加热线圈与测温线圈,测温线圈用于检测钯合金薄膜组件周围的温度,加热线圈用于升高钯合金薄膜组件周围的温度;硅槽与绝缘层相配合用于对钯合金薄膜组件保温。本发明采用对氢气敏感度高的钯合金,同时引入惠斯通电桥,大大提升了检测精度;其特殊的立体结构极大地提升了热响应速度,保温效果好,灵敏度高。 |
