一种超导器件低温测试装置
基本信息
| 申请号 | CN201910599257.6 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN110297197B | 公开（公告）日 | 2022-03-18 |
| 申请公布号 | CN110297197B | 申请公布日 | 2022-03-18 |
| 分类号 | G01R33/12（2006.01）I;G01R31/00（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 李建国;洪国同;刘彦杰;王娟;梁惊涛 | 申请（专利权）人 | 中国科学院理化技术研究所 |
| 代理机构 | 深圳市科进知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 曹卫良 |
| 地址 | 100190北京市海淀区中关村东路29号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供的超导器件低温测试装置，通过设置在插入液氦杜瓦内部连接杆侧面的小孔，以及设置在连接杆上端的氦气排出口，可以将杜瓦内部的冷氦气通过连接杆内部排出杜瓦外，结合连接杆内部线缆隔板的设置，可以充分利用冷氦气的显热来冷却线缆，进而隔绝线缆的传导漏热，实现测试装置的高效绝热。 |
